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壓敏電阻交流作用下的老化機理
交流作用下。在正半周時,假設(shè)右側(cè)為正極性,電壓主要加在右側(cè)的耗盡層上,使右側(cè)的Zni向晶界遷移,而左側(cè)所加電壓很低,Zn
i向晶粒內(nèi)遷移不大;在負半周,電壓主要加在左側(cè),使左側(cè)Zni向晶界遷移,右側(cè)這時所加電壓很低,Zni向晶粒體內(nèi)遷移不大。總的結(jié)果是左右兩側(cè)的Zni都向晶界遷移。

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老化機理:
曾經(jīng)被認為是老化的起因的有電子陷阱,偶極子轉(zhuǎn)向,氧脫附和離子遷移,目前能證實的只有填隙鋅離子遷移。一般認為老化是晶界現(xiàn)象,是由于耗盡層內(nèi)離子遷移,而Zni是主要的遷移離子。

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