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ZnO晶相位于晶粒體內,為低電阻率的半導體,對大電流特性有決定性作用。ZnO半導化的原因主要是氧不足導致的非化學計量比和施主摻雜,有大量的導電電子存在,為n型半導體。富鉍相,約在750℃形成12/14 Bi2O3
·Cr2O3 ,溫度低于850℃參與形成焦綠石相,超過850℃后從焦綠石相中分離出來,生成含
Cr的富鉍相,含有尖晶石相和Zn,隨著溫度的升高,Cr逐步移到尖晶石相中。
Cr有穩定尖晶石相的作用,高溫冷卻時,可以阻止生成焦綠石相。 焦綠石相700-900℃時形成,850℃時達到峰值,約950℃時消失,
反應式如下
2Zn2Bi3Sb3O 14+ 17ZnO ——3Zn7Sb2O 12+ 3Bi2O3
由于壓敏電阻型號太多,篇幅有限,恕不一一呈現,欲知詳請,歡迎撥打圖片中的咨詢電話與我們源林電子(www.www.worldgov.com.cn)聯系,謝謝!
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氧化鋅壓敏電阻的缺陷:
ZnO壓敏電阻器中的缺陷有正一價和正二價的Zni和Vo,負一價和負二價的
VZn ,正一價的DZn。VZn主要在晶界處,VZn為受主態,使晶粒表面形成一電子耗盡層而產生勢壘,約0.7eV。Zni容易遷移為亞穩態,是老化產生的根源所在。DZn可降低晶粒體的電阻,提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少,主要存在于晶界中。高溫時原子運動加劇,在晶界中形成大量的VZn和Vo,但Vo在冷卻過程中容易從空氣中吸收氧而消失。
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