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漏電流IL
漏電流(mA)也稱等待電流,是指壓敏電阻器在規定的溫度和直流過壓敏電阻器電流。IEC對漏電流 IL較為普遍的定義是:環境溫度25℃時,在壓敏電阻上施加其所屬規格的連續直流工作電壓UDC時,流過壓敏電阻的直流電流。
一般而言,在材料配方和燒結工藝固定的情況下,漏電流適中的壓敏電阻具有較好的安全性和較長的壽命。
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壓敏電阻的物理特性:
ZnO 壓敏電阻的非線性是一種晶粒邊界現象,即在相 鄰晶粒耗盡層中存在多數電荷載流子(電子)的勢壘。認 為肖特基勢壘像 ZnO 微結構中晶粒邊界勢壘。晶粒邊界 上的負表面電荷(電子捕獲)是由晶界面兩側晶粒的耗盡 層的正電荷來補償的。熱電子發射和隧道效應是主要的傳 輸機制。 近發展的壓敏電阻勢壘的晶粒邊界缺陷模型在改進 穩電壓應力下,壓敏電阻的穩定性上取得了很大進展。
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