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壓敏電阻沖擊電流作用下的老化機理
沖擊電流作用下主要是熱老化。能量迅速注入電阻片,溫度升高很多,使離子的能量大為增加,遷移力增大,使反偏壓側(cè)的Zni,Bi3+等向晶界遷移。
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老化的表現(xiàn):
老化是指在各種外加應(yīng)力及外界因素作用下,其性能及電氣物理參數(shù)發(fā)生改變,逐步偏離其起始性能指標(biāo)。ZnO壓敏電阻器老化后的I-V特性,老化主要集中在預(yù)擊穿區(qū),而擊穿區(qū)的老化較小,表現(xiàn)為I-V特性曲線在低電場區(qū)向右偏移,阻性電流加大,功率損耗增大,壓敏電壓下降。直流電壓作用后的老化,I-V特性不對稱;交流電壓作用下的老化。另老化后電容量減小,介電損耗增大。
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