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壓敏電壓
壓敏電壓是指在電流為1mA時測得的壓敏電阻器兩端的電壓降,它沒考慮壓敏電阻器的尺寸;E0.5是指在電流為0.5mA/cm2下測得的加在壓敏電阻器上的電場強度;C值是指在電流為1A(也有的地方說1mA,但差別不大)時壓敏電阻器兩端的電壓降。在n個相同的壓敏電阻器串聯或并聯時C值的變化如下:
a)串聯時電流不變,電壓增大n倍,這時C值提高n倍,可利用壓敏電阻器串聯來提高工作電壓。
V=nCI1/α=(nC)I1/α=C’I1/α
b)并聯時電壓不變,電流增大n倍,C值幾乎不變,可利用壓敏電阻器的并聯來提高通流容量。
I=n(V/C)α=[V/(Cn–1/α)]α=(V/C’)α
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掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡,SEM)是繼透射電鏡之后發展起來的一種電鏡。與透射電鏡的成像方式不同,掃描電鏡是用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號可以是二次電子(被入射電子轟擊出來的樣品核外電子)、背散射電子(被固體樣品中原子反射回來的一部分入射電子)或吸收電子。其中二次電子為主要的成像信號?,F以二次電子像的成像過程來說明掃描電鏡的工作原理。由電子槍發射的能量為5-35KeV的電子,以其交叉斑作為電子源,經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成
具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束,在掃描線圈驅動下,于試樣表面按一定時間、空間順序作柵網式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用,產生二次電子發射(以及其他物理信號),二次電子發射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號,經視頻放大后輸入到顯像管柵極,調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。
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