壓敏電阻采購(gòu),就選源林電子,品類(lèi)豐富
ZnO是六方晶系纖鋅礦結(jié)構(gòu),其化學(xué)鍵處于離子鍵與共價(jià)鍵的中間鍵型狀態(tài),氧離子以六方密堆,鋅離子占據(jù)一半的四面體空隙,鋅和氧都是四面體配位。ZnO是相對(duì)開(kāi)放的晶體結(jié)構(gòu),開(kāi)放的結(jié)構(gòu)對(duì)缺陷的性質(zhì)及擴(kuò)散機(jī)制有影響,所有的八面體間隙和一半的四面體間隙是空的,正負(fù)離子的配位數(shù)均為4,所以容易引入外部雜質(zhì),ZnO熔點(diǎn)為2248,密度為5.6g/cm3,純凈的ZnO晶體,其能帶由02-的滿的2p電子能級(jí)和Zn2+的空的4s能級(jí)組成,禁帶寬度為3.2~3.4eV,因此,室溫下,滿足化學(xué)計(jì)量比的純凈ZnO應(yīng)是絕緣體,而ZnO中常見(jiàn)的缺陷是金屬填隙原子,所以它是金屬過(guò)剩(Zn1+xO)非化學(xué)計(jì)量比n型半導(dǎo)體。
Eda等認(rèn)為,在本征缺陷中,填隙鋅原子擴(kuò)散快,對(duì)壓敏電阻穩(wěn)定性有很大影響。
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氧化鋅壓敏電阻的功率損耗和阻性電流的增加:
在直流電壓作用下對(duì)氧化鋅壓敏電阻進(jìn)行加速老化試驗(yàn),試驗(yàn)結(jié)果表明,與交流電壓作用下壓敏電阻一樣,氧化鋅壓敏電阻的功率損耗和阻性電流在老化試驗(yàn)過(guò)程中明顯增加

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