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合理的配方和工藝是控制材料的化學成分和微觀結構,獲取優良的宏觀物理性能的關鍵。而ZnO壓敏陶瓷實驗配方的設計是晶粒能否低壓化的關鍵技術之一,各種元素的添加和量的控制直接影響材料的顯微結構和晶界特性,進而決定壓敏性能。ZnO本身的電性質對本征缺陷,尤其是對氧空位和鋅填隙比較敏感,摻雜在壓敏特性的形成過程中,影響燒結時晶粒的生長、液相在冷卻時的去潤濕作用以及陶瓷的電子缺陷態。到目前為止,人們對低壓化及摻雜改性方面己經作了很多研究工作,得到了許多有價值的結果,如Co、Mn
、Sb等可改善非線性指數,Bi、Pr、Ba、Sr、Pb、U等可使ZnO晶粒絕緣和提供所需元素(O2、Co、Mn、Zn等)到晶界,Co、玻璃料、Ag、B、Ni、Cr等的添加可改善穩定性,而A1、Ga、F、Cr等可改善大電流非線性指數(形成ZnO晶粒中的施主),Sb及Si可抑制晶粒生長,Be、Ti、Sn則可促進晶粒生長。
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ZnO壓敏電阻器的限壓原理:
VSIOV= ZSIOV*VS(Zsource+ZSIOV),其中VS為浪涌電壓,Zsourc為浪涌電壓源的阻抗,如傳輸線的電阻或線圈的電感等,ZSIOV
為ZnO壓敏電阻器在某電流下的電阻。浪涌電壓源的阻抗往往被低估,因浪涌電流包含許多KHz—MHz的交流成分,其阻抗比低頻時大得多。
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