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壓敏電阻直流作用下的老化機理

直流作用下。反偏壓側的Zni向晶界遷移，中和了部分VZn，使表面受主態密度下降，勢壘降低，阻性電流增大。直流電壓作用下的老化不對稱，是因為測試電壓極性如與老化時加的電壓一致，電壓主要加在正極性側的耗盡層上，而這一側可遷移的填隙鋅離子已不多；如極性相反，則電壓主要加在另一側的耗盡層上，而這側有大量的填隙鋅離子，所以阻性電流大。

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氧化鋅壓敏電阻在直流電壓作用下的老化：

在直流電壓的作用下，氧化鋅壓敏電阻的U-I曲線發生不對稱變化，即在施加電壓一段時間后，試驗時施加的電壓梯度為95V/mm，溫度為70℃。加壓后在測量壓敏電阻的U-I特性表明，在同樣的電壓下，流過壓敏電阻的電流將增加。

不對稱變化表現在：和老化試驗電壓極性相反的伏安特性的變化比極性一致的正方向特性右的變化要大。隨所施加電壓和加壓時間的增加，U-I 特性曲線的改變程度也加大。

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漏電流IL

漏電流(mA)也稱等待電流，是指壓敏電阻器在規定的溫度和直流過壓敏電阻器電流。IEC對漏電流 IL較為普遍的定義是：環境溫度25℃時，在壓敏電阻上施加其所屬規格的連續直流工作電壓UDC時，流過壓敏電阻的直流電流。

一般而言，在材料配方和燒結工藝固定的情況下，漏電流適中的壓敏電阻具有較好的安全性和較長的壽命。

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